概述
導波雷達物位計,可發(fā)射高頻率微波,沿著(zhù)探桿傳播,由于遇到被測介質(zhì),介電常數突變,引起反射。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時(shí)間間隔與被測量介質(zhì)的距離成正比。同時(shí),導波雷達物位計也可以測量?jì)煞N不同介質(zhì)的界面,充分利用介質(zhì)的介電常數的不同。但測量條件是上層介質(zhì)不導電,或其介電常數比下層介質(zhì)介電常數小10倍以上。脈沖的工作方式可測量小介電常數介質(zhì),并安全適用于各種金屬、非金屬容器內,對人體及環(huán)境無(wú)傷害。廣泛應用于煤廠(chǎng)、電廠(chǎng)、石油化工和食品等行業(yè)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
可以測量介電常數大于等于1.4的大多數介質(zhì)。
適用于測量粘稠液體,或溫度和壓力變化大的場(chǎng)合。
適用于測量明顯的揮發(fā)性氣體介質(zhì)。
可用于泡沫、掛壁和結垢、表面波動(dòng)、鼓泡或沸騰、高頻裝卸料、超低液位工況。
介電常數或比重變化的介質(zhì)應用場(chǎng)合。
用于固體顆粒、粉末介質(zhì)。
粉塵飛揚大的介質(zhì)。