雷達物位計由于測量精度高、耐高溫、高壓的能力強，以及采用非接觸的測量方式，成為過(guò)程控制物位監測的首選儀表，是近年逐步在現場(chǎng)應用的先進(jìn)測量技術(shù)。但在使用過(guò)程中也暴露出一些問(wèn)題，主要是設計選型失誤。由于種類(lèi)和品牌較多，如果在設計階段不能結合工況條件選擇適宜的產(chǎn)品，就可能造成雷達物位計無(wú)法正常使用。在選用物位儀表時(shí)，應區別不同介質(zhì)工作條件及過(guò)程要求，選用成本低、精度高、價(jià)格適中、性能可靠的測量?jì)x表。
1、介電常數的選擇
首先要確定被測介質(zhì)的介電常數。雷達物位計是基于發(fā)射-反射-接受的過(guò)程來(lái)實(shí)現物位測量的。因此被測介質(zhì)對雷達波的反射率是必須考慮的，而介質(zhì)對雷達波的反射率跟介質(zhì)的介電常數成正比。目前，主流雷達物位計要求的最低介電常數約為1.5，介電常數低于1.5的介質(zhì)不應選用雷達物位計。對于一些剛過(guò)臨界點(diǎn)的介質(zhì)，比如一些液化石油氣的介電常數約為1.6左右，這種臨界情況下，如果選用非接觸式雷達物位計，一般采用增加一根導波管的方案，增強雷達波回波信號，即可滿(mǎn)足測量要求。低介電常數和變介電常數的被測介質(zhì)，優(yōu)選導波雷達。低介電常數液體介質(zhì)反射信號弱，信號衰減嚴重，物位波動(dòng)和泡沫散射引起信號減弱，罐內障礙物反射引起虛假信號，為此就需要發(fā)射較強的電磁波信號，并采用功能強的微處理器進(jìn)行復雜的信號處理。這就使得常規交流供電雷達物位計價(jià)格非常昂貴，但仍難以較好的解決在上述條件下的物位測量問(wèn)題。導波雷達和常規雷達一樣，采用傳輸時(shí)間來(lái)測量介質(zhì)物位，信號自烴類(lèi)[介電常數2~3]液體表面或自水[介電常數80]面反射回傳的時(shí)間一樣的，不同的只是信號幅度（強度）的差別。普通雷達必須考慮介質(zhì)的影響，比較難辯識返回的各種信號，從雜散信號中檢出真正的物位信號，而導波雷達僅需測量電磁波的傳輸時(shí)間即可，無(wú)需信號的處理和辨別。電磁波可以穿透空間蒸汽、粉塵等干擾源，遇到障礙物易于被反射，被測介質(zhì)導電性越好或介電常數越大，回波信號的反射效果越好。
2、量程的合理選擇
在選用雷達物位計時(shí)，往往有一種錯誤看法，認為選用的量程只要大于槽罐的高度就行。事實(shí)上，雷達物位計上標識的量程可能是它的最大量程，選型時(shí)還要看容器的特性，如貯罐表面平穩還是有波紋，甚至有攪拌。同一型號的雷達料位計在不同情況下所能測量的實(shí)際料位有很大差別。某型號雷達，量程是20m，只是表面平穩液體可以測量20m，如用在無(wú)攪拌有波紋的緩沖罐上，就只能測量10m。用其測量十幾米的帶有攪拌的料位時(shí)，經(jīng)常測量不到低料位，這實(shí)際是選型量程不夠，增加量程后問(wèn)題得到解決。
嘉可自動(dòng)化儀表采用國際先進(jìn)技術(shù)，結合市場(chǎng)需求，相繼研發(fā)出6.3G雷達物位計、導波雷達物位計、26G高頻雷達物位計、26G高頻雷達水位計、物位開(kāi)關(guān)等系列產(chǎn)品。產(chǎn)品廣泛服務(wù)于水處理、石油、化工、冶金、紡織、機械、供熱、供電、供水、科研、環(huán)境及環(huán)保工程等眾多行業(yè)。
